Parametry

Zestawienie materiałów technicznych: pomiary, walidacje, czujniki, EMI, MEMS, diagnostyka magistral, przepięcia, profilowanie PWM/DC oraz moduły komunikacyjne.

EMI / zasilanie

Analiza zakłócenia EMI w układzie z TRIAC

Źródła emisji, snubbery, dV/dt, prowadzenie masy.

analiza-zaklocenia-emi-triac.html

MEMS / metrologia

Eksperyment: noise floor przetworników MEMS

Warunki testowe, aliasing, uśrednianie, tor pomiarowy.

eksperyment-mems-noise-floor.html

Diagnostyka komunikacji

UART, I²C, SPI, terminacja, ramki błędów.

diagnostyka-komunikacji.html

Zakłócenia EMI w sterownikach AGD

Silniki, grzałki, filtracja, separacja.

zaklocenia-emi-sterowniki-agd.html

Błędy czujnika Halla

Objawy, zakłócenia, weryfikacja zasilania.

nota-serwisowa-bledy-czujnik-halla.html

MEMS / aplikacje

Przetwornik ciśnienia MEMS

Kompensacja, histereza, filtracja.

przetwornik-cisnienia-mems.html

NTC / walidacja

Protokół walidacji sensorów NTC

Dryft, tolerancje, stabilność charakterystyki.

protokol-walidacja-sensorow-ntc.html

Hall / porównanie

Porównanie czujników Halla (rev.)

Czułość, szum, odporność na EMI.

porownanie-czujnikow-halla-rev.html

Trace profilowania PWM/DC

Rampy, dead-time, spójność duty.

trace-profilowania-pwm-dc.html

Przepięcia / układ

Układ detekcji przepięć

Okna progowe, czasy reakcji.

uklad-detekcji-przepiec.html

Moduł Wi-Fi UART

Bufory, retry, watchdog, TCP/IP.

modul-wifi-uart.html

I²C / magistrala

Moduł komunikacji I2C

Pull-up, arbitration loss, recovery.

modul-komunikacji-i2c.html

Parametry EMI, charakterystyki czujników, tolerancje magistral oraz reakcje układów na zakłócenia nie zachowują się identycznie w każdym środowisku. Różnice jakości zasilania, topologii instalacji i dynamiki obciążeń powodują przesunięcia progów, zmiany stabilności oraz odmienne wzorce pracy modułów. Te same układy wykazują inne profile reakcji w zależności od miejsca eksploatacji, co wpływa na realne zachowanie systemów w czasie i ujawnia się w lokalnych warunkach pracy urządzeń.