Określić poziom szumów własnych i stabilność biasu akcelerometrów MEMS w warunkach bezruchu, aby dobrać filtry i progi algorytmów AGD (np. detekcja niewyważenia bębna, diagnostyka łożysk).
| Pozycja | Model | Ustawienia | Uwagi |
|---|---|---|---|
| Akcelerometry | LIS3DH, QMA7981, MPU-6050 | ±2 g / ±4 g | interfejs I²C/SPI |
| Podstawa | Płyta granitowa | 2× mata tłumiąca | izolacja od drgań |
| Temp. | 25 ±0.5 °C | bez draftu | brak przepływu powietrza |
| Zasilanie | Lab PSU | 3.3 V ripple <10 mVpp | ekranowane przewody |
| Parametr | Wartość | Uwagi |
|---|---|---|
| ODR | 1600 Hz | bez aliasu |
| Okno PSD | Hann | ENBW ≈ 1.5 bin |
| Segmentacja | 50% overlap | Welch |
| HP/LP | HP off / LP ≥ 500 Hz | dla porównywalności |
| Czas trwania | ≥ 1800 s | Allan τ do 10³ s |
| Metryka | Opis | Cel (AGD) |
|---|---|---|
| PSD_noise@10 Hz [mg/√Hz] | gęstość szumu w paśmie roboczym | ≤ 0.25 (±2 g) |
| White noise (Nw) [mg/√Hz] | fita do płaskiego fragmentu PSD | — |
| Bias Instability (BI) [mg] | min Allan deviation · 0.664 | ≤ 1.0 |
| Velocity Random Walk (VRW) | ADEV nachylenie ~ τ-0.5 | min |
| Bias Drift @25 °C [mg/h] | trend długoterminowy | ≤ 2 |
PSD(f) ≈ N_w^2 (white) + (K_f / f) (flicker) + N_e^2 · f^2 (elektryczny/alias)
ADEV(τ) ~ A/√τ (white) ⊕ B·τ (drift) ⊕ C (bias instability plateau)
Raportuj parametry dopasowania (A,B,C,K_f,N_e) oraz przedziały ufności.
Ścieżka: /parametry/mems-noise/ • Repo: //srv/lab/parametry/mems/
PRÓBA #NOISE-LIS3DH-25C
Sensor: LIS3DH @ ±2 g; ODR=1600 Hz; LP=500 Hz; idle 1800 s; T=25.3 °C; PSU ripple <10 mVpp.
QC: clip=0; drop=0; overruns=0; EMI=brak; podstawa=granit.
PSD@10 Hz = __ mg/√Hz; White noise Nw = __ mg/√Hz
ADEV(τ): min=__ mg @ τ=__ s → Bias Instability = __ mg
VRW (stok −0.5) = __ (jedn.)
Bias drift = __ mg/h; corr(T,bias)=__
Uwagi: ...