Analiza awarii: czujnik drzwi Halla
Zakres: diagnostyka usterek czujników drzwiowych opartych o efekt Halla w modułach AGD. Zakres pracy: VDD=3,3–5,0 V, wyjście typu open-drain, progowe Bop=±2,8–4,2 mT, histereza Bh=0,6–1,2 mT. Funkcje: detekcja zamknięcia drzwi, blokada napędu, autokalibracja MCU, logowanie czasu otwarcia drzwi. Badane parametry: jitter czasowy, stabilność progów, zakłócenia EMI, wpływ dryftu magnetów ferrytowych, błędy interpretacji w MCU.
Objawy i kody błędów
- Fałszywe raportowanie stanu „zamknięte” mimo drzwi otwartych — błędne zbocza sygnału.
- Zawieszanie MCU w trybie blokady przy przejściach H→L.
- Opóźnienia w reakcji ≥120 ms przy otwieraniu/zamykaniu.
- Kody:
E:DR-07(door_state_conflict),E:DR-12(signal_loss),W:EMI-05(edge_noise),W:BTH-02(beta_drift),W:TIM-03(latency_high).
| Kod | Warunek zapisu | Skutek |
|---|---|---|
E:DR-07 | stan logiczny niezgodny z krańcówką >3 s | blokada napędu |
E:DR-12 | brak zbocza >5 s przy detekcji otwarcia | reset czujnika |
W:EMI-05 | ≥3 impulsy <10µs/1 s | włączenie filtrów RC |
W:BTH-02 | ΔBop>±1,2 mT/rok | log ostrzegawczy |
W:TIM-03 | latencja>100 ms | kompensacja FW |
Stanowisko i metodyka
Magnes ferrytowy 25–45 mT, oscyloskop 500 MHz, analizator logiczny 100 MHz, sonda Halla 2,5 mT/div, komora 0–70°C, generator zakłóceń EMI 150 kHz–10 MHz. Procedury: test brzegów otwarcia/zamknięcia, analiza jittera TIE, badanie histerezy Bh, pomiary autokalibracji MCU i odporności na zakłócenia w polu magnetycznym 50 Hz i 300 kHz.
| Parametr | Wartość ref. | Uwagi |
|---|---|---|
| Bop/Brl | ±3,5 mT/±2,5 mT | prog otwarcia/zamknięcia |
| Bh (histereza) | 0,6–1,2 mT | anty-drgania |
| TIE jitter | <±4 ms | @25°C |
| Debounce MCU | 3–6 ms | po RC |
Wyniki i obserwacje
- Zakłócenia EMI: przy indukcji 300 kHz (200 mVpp) obserwowano fałszywe zbocza ≤8µs na wyjściu czujnika; flaga
W:EMI-05. Dodanie RC 1kΩ/220pF i debounce 5ms wyeliminowało błędy. - Dryft progów Bop: w 4 egzemplarzach po 18 miesiącach ΔBop=+1,4–1,8mT — czujnik „trzymał zamknięte” przy otwartych drzwiach; logowano
W:BTH-02. - Opóźnienia reakcji: dla ustawień FW debounce 8ms i próbkowania 2Hz rejestrowano latencję 120–140ms; flaga
W:TIM-03; po zwiększeniu próbkowania do 10Hz czas spadł do 24–36ms. - Utrata zboczy: luźne złącze JST wywołało
E:DR-12przy braku sygnału 7,3s; dodanie testu rezystancji pętli wykrywa przerwy <1kΩ. - Eksperyment z temperaturą: w 55°C szum pola wzrósł o 35%, pojawiły się fluktuacje ±0,7mT; filtr FIR 3-tap przywrócił stabilność detekcji.
LOG START [HALL-DOOR-25-366]
t[s] B[mT] State Out[V] EMI_pulses Latency[ms] Flags
0 4.2 CLOSED 0.02 0 5 OK
52 3.9 OPEN 3.3 0 7 OK
86 3.7 OPEN 0.02 4 11 W:EMI-05
118 3.5 OPEN 0.02 0 138 W:TIM-03
193 4.4 CLOSED 3.3 0 6 RECOVER
LOG END
Hipotezy przyczynowe (ranking)
- EMI/RC/SHIELD: brak filtracji → fałszywe zbocza (priorytet: wysoki).
- DRYFT Bop: starzenie sensora → przesunięcia progów (wysoki).
- FW/próbkowanie: zbyt wolne odczyty → opóźnienia detekcji (średni).
- MECHANIKA ZŁĄCZ: luźne styki → chwilowa utrata sygnału (średni).
- TEMPERATURA: wzrost szumu pola przy T>50°C (średni).
Wycinek procedury serwisowej
- Sprawdź filtry RC: R=1kΩ, C=220pF blisko sensora; EMI <100mVpp przy LISN=150kHz–10MHz.
- Pomiar Bop/Brl sondą Halla ±5mT, tolerancja ±0,8mT; ΔBop>1,2mT → wymiana sensora.
- W firmware włącz debounce 5ms, próbkowanie ≥10Hz i filtr FIR 3-tap na wejściu czujnika.
- Dodaj detekcję przerwy pętli: rezystancja<1kΩ OK, powyżej →
E:DR-12. - Przy temperaturze pracy>55°C: rekomendowany ekran ferrytowy i kompensacja offsetu FW.
- Test końcowy: cykl 100× otwarcie/zamknięcie; brak
E:DR-07/E:DR-12, jitter<±4ms.
Wnioski
Najczęstsze przyczyny awarii czujników drzwi Halla to brak filtracji EMI, dryft progów magnetycznych i nieoptymalne próbkowanie w FW. Dodanie filtrów RC, kompensacji offsetu i szybszego próbkowania ograniczyło błędy E:DR-07/W:EMI-05 o 92% i skróciło latencję poniżej 40ms. Do oceny skuteczności procedur serwisowych wykorzystano stanowisko testowe, co umożliwiło dokładniejsze porównanie parametrów.
Przypadki rekurencyjne kierować do jednostki lokalnej z logami Bop/Brl, testami EMI i zrzutami jittera.